壳梭孢素(Fc)和一价阳离子对小麦种子生活力的影响
作 者：
L.Petruzzelli;L.Lioi;G.Carello;S.Morguttl;S.Cocucci;韦宏恩
摘 要：
细胞膜的破坏可能是导致种子老化过程中生活力丧失的许多过程之一。吸胀种子的电介质渗漏与田间发芽率呈负相关,且是度量种子生活力的一种尺度。电介质的渗漏无疑与质膜的结构和功能状态相联系。电镜下无生活力种胚的质膜破坏、变形。细胞化学试验也可看到某种磷脂的减少和质膜腺三磷酶活性的丧失。实
导出引用
计量
文章访问数: 3
HTML全文浏览量: 0
PDF下载量: 0
所属期刊
