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基于SNP芯片玉米抗倒性状的QTL定位

作  者:
燕树锋;范艳萍;刘海芳
单  位:
河南农业职业学院;河南省农业科学院粮食作物研究所
关键词:
玉米;抗倒性;穿刺强度;QTL定位;SNP芯片
摘  要:
利用10K SNP芯片和玉米F2∶3家系,共定位到18个与茎秆穿刺强度、茎粗和穗位高性状相关的QTL.结果表明,5个茎秆穿刺强度QTL分别位于第1、3、4、6、7染色体,4个茎粗QTL分别位于第1、2、4、8染色体上,9个穗位高QTL分别位于第1、2、3、4、6、7、8、9染色体上.在第4染色体2.2~11.7 Mb区段上检测到同时控制地上第3节茎秆穿刺强度、茎粗和穗位高3个性状的QTL;在第8染色体C8M179标记(物理位置118 050 940 bp)附近检测到同时控制地上第3节茎粗和穗位高2个性状的QTL.
译  名:
QTL Identification for Lodging-Resistant Traits Based on SNP Chip in Maize

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