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不同光谱预处理方法的鲜杏缺陷支持向量机识别

作  者:
马艳;张若宇
单  位:
石河子大学机械电气工程学院;农业部西北农业装备重点实验室
关键词:
高光谱成像;缺陷检测;光谱预处理;支持向量机;鲜杏
摘  要:
为探求一种快速有效识别缺陷鲜杏无损检测方法,利用高光谱成像技术对其进行检测。首先借助可见近红外高光谱成像系统获取鲜杏高光谱图像数据,提取感兴趣区域的光谱曲线,然后对原始光谱进行卷积平滑、标准正态变量、多元散射校正3种不同预处理方法,通过建立支持向量机SVM识别模型对缺陷鲜杏进行检测判别。研究结果表明,原始光谱和Savitzky-Golay卷积平滑预处理建立的C-SVC类型的支持向量机模型最优,识别率均为93.3%,为快速有效识别缺陷鲜杏提供了可能。

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